Microscope électronique à balayage (PC-SEM)
Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Prix fixe hors TVA
35 000 €
État
Occasion
Lieu
Borken Allemagne
Microscope électronique à balayage (PC-SEM) Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
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Données sur la machine

Designation de la machine:
Microscope électronique à balayage (PC-SEM)
Fabricant:
Jeol
Modèle:
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
État:
très bon (occasion)

Prix et localisation

Prix fixe hors TVA
35 000 €
Lieu:
Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland Allemagne
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Détails sur l'offre

Identifiant de l'annonce:
A10874957
Numéro de référence:
23543
Dernière mise à jour:
le 15.11.2024

Description

Nous vous proposons ici un microscope électronique à balayage Jeol.

Jeol JSM-6490 Microscope électronique à balayage (PC-SEM)

Microscope électronique à balayage numérique moderne à haute résolution
avec une optique électronique nouvellement développée et une interface intuitive,
interface utilisateur graphique (GUI) sous Microsoft WindowsXP Professional.

Plage de grossissement : 5 X - 300.000 X
Tension d'accélération 0.3 - 30 kV
cathode à aiguille en tungstène (cathode LaB6 en option)
grande platine porte-échantillons entièrement motorisée, avec
basculement, incl.
Navigation graphique sur le porte-échantillon
Navigation facile des échantillons grâce au zoom du centre de clics
Navigation pilotée par champ d'image au-dessus de 2 navigateurs
Navigation en coordonnées relatives
Enregistrement et redémarrage des positions d'échantillons
Déplacement réglable de la plate-forme d'échantillons en fonction de la section de l'échantillon
Correction du champ d'images pendant la rotation Par le biais d'une commande par ordinateur.
rotation eucentrique commandée
Correction du champ d'image pendant le basculement par ordinateur
basculement eucentrique commandé
Calcul de l'angle d'inclinaison possible en fonction de la
Géométrie de l'échantillon
suivi automatique de la mise au point lors du déplacement de l'échantillon.
échantillon en direction Z
Interrupteurs de limite intelligents pour les axes motorisés

Course de la table d'échantillons :
x=125mm
Y=100mm
z= 5 à 80 mm (sans barre)
T= -10°C à + 90°C
R= 360°C (sans fin)
Détecteur d'électrons secondaires pour un fonctionnement sous vide poussé
Nouvelle lentille d'objectif superconique garantissant une haute résolution
Résolution d'image même avec de grands angles d'inclinaison
Résolution garantie Dans l'image SE : 3 nm à 30 kV et
15 nm à 1 kV
Affichage simultané des images en direct de plusieurs détecteurs
Navigation facile de l'échantillon grâce au zoom du centre Cllck
Fonctions puissantes de mesure d'image
Fonction vidéo pour l'enregistrement de processus dynamiques
Chambre à échantillons polyvalente avec de nombreuses
Possibilités d'extension : brides libres, par ex. pour EDX, WDX,
EBSD, cathodoluminescence, etc.
Système de pompage silencieux, nécessitant peu d'entretien et peu d'usure
composé d'une pompe primaire, d'une pompe à diffusion à haute résistance sans vibration
ainsi que commande de soupape électromagnétique
Protection étendue contre les erreurs de manipulation
et défaillance des fluides externes
Table système ergonomique et réglable en hauteur
Kit de démarrage MEB comprenant 2 porte-échantillons,
Jeu d'outils et 6 cathodes de rechange

Équipement supplémentaire

2x ΜΡ-43100 (TMP)

Pompe turbomoléculaire
au lieu de la pompe à diffusion de série.
En cas d'utilisation d'une pompe turbomoléculaire, il n'est pas nécessaire d'utiliser de l'eau de diffusion pour le fonctionnement.
fonctionnement du REM, l'eau de refroidissement n'est plus nécessaire.

Autres équipements :

PC pour la commande du MEB
y compris écran TFT

ΟΧ200 Système Bruker Quantax 200 EDX EXTENDED

Système d'analyse à rayons X sans azote, à dispersion d'énergie
incl :

Détecteur SDD avec 127 eV ou une meilleure résolution énergétique
Nwjdpfx Aemn Rcqsdgjp
Détection de tous les éléments à partir du bore.
Sans vibrations, sans entretien. Refroidi par effet Peltier (sans azote).
Processeur d'impulsions
Moniteur TFT
Mesure de spectres et dentiflcation d'éléments
Entièrement automatique, quantitative, sans standard
Analyse des éléments
Insertion de l

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