Système de mesureAlicona
InfiniteFocusXL200 G5
Système de mesure
Alicona
InfiniteFocusXL200 G5
Année de construction
2017
État
Occasion
Lieu
Zuchwil 

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Données sur la machine
- Designation de la machine:
- Système de mesure
- Fabricant:
- Alicona
- Modèle:
- InfiniteFocusXL200 G5
- Année de construction:
- 2017
- État:
- très bon (occasion)
Prix et localisation
- Lieu:
- Niedermattstrasse 3a, 4528 Zuchwil, Schweiz

Appeler
Détails sur l'offre
- Identifiant de l'annonce:
- A20696670
- Dernière mise à jour:
- le 06.12.2025
Description
Système de mesure Alicona InfiniteFocusXL200 G5
Volume de positionnement : 200 mm × 200 mm × 200 mm
Poids maximal de la pièce : 30 kg
Grossissements d’objectifs : 2.5x, 5x, 10xHX, 10x, 20xHX, 20x, 50x, 100x
Ouverture numérique : 0,075–0,8
Distance de travail : 4,5–37 mm
Plage de mesure latérale : 5,63 mm à 0,16 mm
Résolution verticale : 2300 nm à 10 nm
Bruit de mesure : 800 nm à 1 nm
Dedpjx Dxw Tefx Adajcd
Plage de mesure verticale : 8–36 mm
Vitesse de mesure : jusqu'à 1,7 million de points de mesure/s
Rugosité Ra minimale mesurable : 7 µm à 0,03 µm
Rugosité Sa minimale mesurable : 3,5 µm à 0,015 µm
Hauteur minimale mesurable : 2,3 µm à 0,01 µm
Surface maximale mesurable : jusqu’à 40 000 mm²
Précision de planéité : 0,1 µm (objectif 10x)
Aucune garantie n’est donnée quant à l’exactitude, l’exhaustivité ou l’actualité des informations.
L'annonce a été traduite automatiquement et des erreurs de traduction peuvent apparaître.
Volume de positionnement : 200 mm × 200 mm × 200 mm
Poids maximal de la pièce : 30 kg
Grossissements d’objectifs : 2.5x, 5x, 10xHX, 10x, 20xHX, 20x, 50x, 100x
Ouverture numérique : 0,075–0,8
Distance de travail : 4,5–37 mm
Plage de mesure latérale : 5,63 mm à 0,16 mm
Résolution verticale : 2300 nm à 10 nm
Bruit de mesure : 800 nm à 1 nm
Dedpjx Dxw Tefx Adajcd
Plage de mesure verticale : 8–36 mm
Vitesse de mesure : jusqu'à 1,7 million de points de mesure/s
Rugosité Ra minimale mesurable : 7 µm à 0,03 µm
Rugosité Sa minimale mesurable : 3,5 µm à 0,015 µm
Hauteur minimale mesurable : 2,3 µm à 0,01 µm
Surface maximale mesurable : jusqu’à 40 000 mm²
Précision de planéité : 0,1 µm (objectif 10x)
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